自動(dòng)化元器件檢測(cè)

背景

被動(dòng)元器件，在5G和新能源車、消費(fèi)類電子產(chǎn)品升級(jí)的帶動(dòng)下，需求量越來越大。MLCC、厚膜電阻等，不管是產(chǎn)品的功率、還是對(duì)小尺寸產(chǎn)品的追求。客戶對(duì)產(chǎn)線設(shè)備的要求是，高速、高精度，高一致性的測(cè)試設(shè)備。

具體應(yīng)用

根據(jù)被動(dòng)元器件廠家產(chǎn)線的產(chǎn)量及良率要求，高速評(píng)價(jià)元器件特性（L/C/R/Z/Q等），測(cè)試數(shù)據(jù)分等級(jí)批次一次完成。配套測(cè)包機(jī)系統(tǒng)，兼顧系統(tǒng)兼容性和小尺寸治具。

使用儀器

LCR IM3536
高頻阻抗分析儀 IM7580系列
微電阻計(jì) RM3545
高阻計(jì) SM7110

  ※記載的內(nèi)容是根據(jù)2018年1月發(fā)行的儀器型號(hào)。產(chǎn)品參數(shù)可能會(huì)有更改，請(qǐng)以現(xiàn)在發(fā)行的為準(zhǔn)。